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封裝共面性測(cè)試儀結(jié)構(gòu)美觀大方,操作簡便,結(jié)合本公司自主研發(fā)的測(cè)量軟件,可實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的元器件共面性、工件外形尺寸等測(cè)量,性價(jià)比高、拓展性強(qiáng)、功能全面、可滿足各種常規(guī)測(cè)量需求。
器件引腳共面性檢測(cè)儀設(shè)備結(jié)構(gòu)美觀大方,操作簡便,結(jié)合本公司自主研發(fā)的測(cè)量軟件,可實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的元器件共面性、工件外形尺寸等測(cè)量,性價(jià)比高、拓展性強(qiáng)、功能全面、可滿足各種常規(guī)測(cè)量需求。
半導(dǎo)體共面性測(cè)量設(shè)備結(jié)構(gòu)美觀大方,操作簡便,結(jié)合本公司自主研發(fā)的測(cè)量軟件,可實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的元器件共面性、工件外形尺寸等測(cè)量,性價(jià)比高、拓展性強(qiáng)、功能全面、可滿足各種常規(guī)測(cè)量需求。
BGA共面度檢測(cè)儀結(jié)構(gòu)美觀大方,操作簡便,結(jié)合本公司自主研發(fā)的測(cè)量軟件,可實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的元器件共面性、工件外形尺寸等測(cè)量,性價(jià)比高、拓展性強(qiáng)、功能全面、可滿足各種常規(guī)測(cè)量需求。
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